Shenzhen Shinzo Technology Co., Ltd. දැන් මෙම ලිපියේ පෙන්වා ඇති පරිදි IC චිප් පරීක්ෂණ උපකරණ, පරීක්ෂණ උපකරණ පින්තූර නව කණ්ඩායමක් මිලදී ගනිමින් සිටී, අපට පාරිභෝගිකයින් සඳහා එක්-නැවතුම් ප්‍රසම්පාදන සේවා හොඳ කාර්යයක් කිරීමට පමණක් නොව, චිප්ස් නව සහ මුල් බව සහතික කිරීමට අපගේ පාරිභෝගිකයින්ට ලබා දෙන්න.එකිනෙකාගේ සමාගම්වල දිගුකාලීන සංවර්ධනය සඳහා එක්ව කටයුතු කිරීම අපගේ අරමුණයි!
IC Chip, Integrated Circuit Chip යනු චිපයක් සෑදීම සඳහා ප්ලාස්ටික් පදනමක් මත සාදන ලද ක්ෂුද්‍ර ඉලෙක්ට්‍රොනික සංරචක (ට්‍රාන්සිස්ටර, ප්‍රතිරෝධක, ධාරිත්‍රක, ආදිය) විශාල සංඛ්‍යාවක් තැබීමයි.
වර්තමානයේදී, IC චිපයේ ගුණාත්මකභාවය සමස්ත ඉලෙක්ට්‍රොනික නිෂ්පාදන තුළ ඉතා විශාල කාර්යභාරයක් ඉටු කරයි, එය වෙළඳපලෙන් පසු සම්පූර්ණ නිෂ්පාදනයේ ගුණාත්මක භාවයට සෘජුවම බලපායි.ඉතින් ප්‍රසම්පාදන සේවකයින් සඳහා, IC චිපයේ ගුණාත්මකභාවය නිවැරදිව හඳුනා ගන්නේ කෙසේද?මෙම ලිපිය කෙටියෙන් ක්‍රම කිහිපයක් හඳුන්වා දෙයි.
(TH2827C නිරවද්‍ය LCR මීටරය)
1. නොබැඳි හඳුනාගැනීම
IC පරිපථයට වෑල්ඩින් නොකළ විට මෙම ක්රමය සිදු කෙරේ.සාමාන්‍යයෙන්, බිම් කටුවලට අනුරූප වන අල්ෙපෙනති අතර ධනාත්මක සහ ප්‍රතිලෝම ප්‍රතිරෝධක අගයන් මැනීමට බහුමාපකයක් භාවිතා කළ හැකි අතර හොඳ තත්ත්වයේ IC සංසන්දනය කරනු ඇත.
(ඩිජිටල් ගබඩා Oscilloscope)
2. මාර්ගගත හඳුනාගැනීම
(1) DC ප්රතිරෝධය හඳුනා ගැනීම, නොබැඳි හඳුනා ගැනීම හා සමානයි
මෙය පරිපථයේ (පරිපථයේ IC) DC ප්රතිරෝධය, AC සහ DC වෝල්ටීයතාවයෙන් බිමට සහ සම්පූර්ණ ක්රියාකාරී ධාරා හඳුනාගැනීමේ ක්‍රමයේ ඇති IC කටු බහු-මීටර හඳුනා ගැනීමකි.
(2) DC ක්රියාකාරී වෝල්ටීයතාව මැනීම
මෙය බලය සම්බන්ධයෙන්, බහු-මීටර් DC වෝල්ටීයතා බ්ලොක් DC සැපයුම් වෝල්ටීයතාවයක් සහිත, වැඩ කරන වෝල්ටීයතා මැනීමේ පර්යන්ත සංරචක;එක් එක් IC පින් එකෙහි DC වෝල්ටීයතා අගය බිමට පරීක්ෂා කරන්න, සහ සාමාන්‍ය අගය සමඟ සසඳා, පසුව හානියට පත් වූ සංරචක වලින් දෝෂ පරාසය සම්පීඩනය කරන්න.
මැනීමේදී, පහත කරුණු අට කෙරෙහි අවධානය යොමු කරන්න:
①විශාල මිනුම් දෝෂයක් ඇති නොවන පරිදි බහු-මීටරයට ප්‍රමාණවත් අභ්‍යන්තර ප්‍රතිරෝධයක් තිබිය යුතුය, මනින ලද පරිපථයේ ප්රතිරෝධය මෙන් 10 ගුණයකට වඩා අඩුය.
②සාමාන්‍යයෙන් පොටෙන්ටියෝමීටරය මැද ස්ථානයට, එය රූපවාහිනියක් නම්, සම්මත වර්ණ තීරු සංඥා උත්පාදකයක් භාවිතා කිරීමට සංඥා මූලාශ්‍රය.
③ඔරලෝසු පෑන හෝ සෝදිසියෙන් ලිස්සා යාම වැළැක්වීමේ පියවර ගැනීමට.ඕනෑම ක්ෂණික කෙටි පරිපථයක් IC හානි කිරීමට පහසු නිසා.පෑන ලිස්සා යාම වැලැක්වීම සඳහා පහත ක්‍රම අනුගමනය කළ හැකිය: මේස නිබ් එක මත කපාට හරය සහිත බයිසිකලයක් සහ මිලිමීටර් 05 ක් පමණ දිග මේස නිබ් එකක් ගන්න, එමඟින් පරීක්ෂණ ලක්ෂ්‍යය සමඟ මේස නිබ් හොඳ සම්බන්ධතාවක් ඇති කළ හැකිය. යාබද ලක්ෂ්‍යයට වැදුනත් කෙටි පරිපථයක් සිදු නොවේ.
④පින් එකක වෝල්ටීයතාව සාමාන්‍ය අගයට නොගැලපෙන විට, IC හි සාමාන්‍ය ක්‍රියාකාරිත්වයට සහ අනෙකුත් පින් වෝල්ටීයතාවයේ අනුරූප වෙනස්වීම්වලට පින් වෝල්ටීයතාව වැදගත් බලපෑමක් ඇති කරයිද යන්න අනුව එය විශ්ලේෂණය කළ යුතුය. ආ ඇත්ත ද.
⑤IC පින් වෝල්ටීයතාව පර්යන්ත සංරචක මගින් බලපානු ඇත.පර්යන්ත සංරචක කාන්දු වීම, කෙටි පරිපථය, විවෘත පරිපථය හෝ විචල්‍ය අගයක් ඇති වූ විට හෝ පර්යන්ත පරිපථය විචල්‍ය ප්‍රතිරෝධක පොටෙන්ටියෝමීටරයකට සම්බන්ධ වූ විට, පොටෙන්ටියෝමීටරයේ ස්ලයිඩින් හස්තයේ පිහිටීම වෙනස් වේ, පින් වෝල්ටීයතාව වෙනස් වේ.
⑥IC පින් වෝල්ටීයතාවය සාමාන්‍ය නම්, සාමාන්‍යයෙන් IC සාමාන්‍ය ලෙස සලකනු ලැබේ;පින් වෝල්ටීයතාවයේ IC කොටස අසාමාන්‍ය නම්, එය සාමාන්‍ය අගයෙන් උපරිම අපගමනයකින් ආරම්භ විය යුතුය, පර්යන්ත සංරචකවල දෝෂයක් නොමැති බව පරීක්ෂා කරන්න, දෝෂයක් නොමැති නම්, IC වලට හානි වීමට ඉඩ ඇත.
⑦රූපවාහිනිය වැනි ගතික ග්‍රාහක උපාංග සඳහා, සංඥාවක් නොමැති විට, IC පින් වෝල්ටීයතාව වෙනස් වේ.pin වෝල්ටීයතාවය වෙනස් නොවිය යුතු නමුත් විශාල ලෙස වෙනස් විය යුතු බව සොයා ගතහොත්, සංඥා ප්‍රමාණය සහ වෙනස් කළ හැකි මූලද්‍රව්‍යයේ විවිධ ස්ථාන වෙනස් වන නමුත් වෙනස් නොවන්නේ නම්, IC හානිය තීරණය කළ හැකිය.
⑧වීඩියෝ රෙකෝඩර වැනි විවිධ ක්රියාකාරී මාදිලියේ උපාංග සඳහා, විවිධ ක්රියාකාරී මාදිලිවල, IC පින් වෝල්ටීයතාව ද වෙනස් වේ.
(DC බල සැපයුම)
3. Ac වැඩ කරන වෝල්ටීයතා පරීක්ෂණ ක්රමය
IC හි ප්‍රත්‍යාවර්ත ධාරා වෝල්ටියතා ආසන්න අගය මනිනු ලබන්නේ dB ගොනුවක් සහිත බහුමාපකයක් මගිනි.dB ගොනුවක් නොමැති නම්, එය පෑන ඉදිරිපිට මුඛය තුළට ඇතුල් කළ හැකිය.1-0.5 "DC ධාරිතාව හුදකලා කිරීම. මෙම රටාව අඩු මෙහෙයුම් සංඛ්‍යාත ඇති අයට අදාළ වේ. නමුත් මෙම සංඥා ස්වභාවික සංඛ්‍යාතවලට යටත් වන අතර තරංග ආකාරයෙන් තරංග ආකාරය දක්වා වෙනස් වන බව මතක තබා ගන්න. එබැවින් මනින ලද දත්ත දළ වශයෙන් අගය වේ, යොමුව සඳහා පමණි. .
(ක්රියාකාරී/අත්තනෝමතික තරංග ජනකය)
4. සම්පූර්ණ වත්මන් මිනුම් ක්රමය
IC බල සැපයුමේ සම්පූර්ණ ධාරාව මැනීමෙන්, අපට IC හි ගුණාත්මකභාවය විනිශ්චය කළ හැකිය.බහුතර IC අභ්‍යන්තර DC සම්බන්ධ කිරීම හේතුවෙන්, IC හානිය (PN හන්දිය බිඳවැටීම හෝ විවෘත පරිපථය වැනි) ප්‍රතිලෝම වරායෙන් සහ කපා හැරීමෙන් පසුව ඇති වන අතර එමඟින් මුළු ධාරාව වෙනස් වේ.එබැවින් සම්පූර්ණ ධාරාව මැනීමෙන් IC හි ගුණාත්මකභාවය විනිශ්චය කළ හැකිය.ලූපයේ ප්රතිරෝධය මත වෝල්ටීයතාව මැනීම මගින් වත්මන් අගය ගණනය කළ හැක.
(ආදානය)
පසු කාලය: මාර්තු-17-2023